激光粒度測試儀是一種性能優(yōu)良的粒度分布儀，它采用進口的半導(dǎo)體激光器，功率大、壽命長、單色性好；采用專門設(shè)計的由大規(guī)模集成電路工藝制造的大尺寸高靈敏度光電探測器陣列；采用蠕動循環(huán)泵和微量樣品池兩種進樣方式；采用全程米氏理論和多種分布模型的數(shù)據(jù)處理方式；采用高精度的數(shù)據(jù)傳輸與處理電路等一系列先進的技術(shù)和制造工藝，使該儀器具有準(zhǔn)確可靠、測試速度快、重復(fù)性好、操作簡便等突出特點，是集激光技術(shù)、計算機技術(shù)、光電子技術(shù)于一體的新一代粒度測試儀器。

　　激光粒度測試儀是通過顆粒的衍射或散射光的空間分布（散射譜）來分析顆粒大小的儀器，采用Furanhofer衍射及Mie散射理論，測試過程不受溫度變化、介質(zhì)黏度，試樣密度及表面狀態(tài)等諸多因素的影響，只要將待測樣品均勻地展現(xiàn)于激光束中，即可獲得準(zhǔn)確的測試結(jié)果。

　　激光粒度測試儀對中調(diào)整方法：

　　對中調(diào)整是通過調(diào)整儀器正面，測試窗口下面的2個“對中旋鈕”來改變“傅里葉透鏡”的偏移位置，從而使得激光打在0號探測單元上。

　　調(diào)整對中旋鈕，激光會相應(yīng)發(fā)生偏移，因此我們需要隨時觀察“背景光能分布”窗口上光柱的運動情況。

　　調(diào)整對中旋鈕，使得激光向0環(huán)方向偏移上旋鈕向左偏移向上偏移向右偏移激光下旋鈕調(diào)整“下旋鈕”方法與“上旋鈕”的一致。

　　當(dāng)“下旋鈕”調(diào)整激光接近0號探測單元，0環(huán)附近的1環(huán)2環(huán)都很高此時，說明激光已經(jīng)接近0號探測單元。繼續(xù)向逆時針方向旋轉(zhuǎn)，如果發(fā)現(xiàn)光柱反而遠(yuǎn)離0環(huán)此時應(yīng)略微回調(diào)。

　　向下偏移調(diào)整對中時，我們可以先調(diào)上旋鈕，或者下旋鈕。選擇其中一個，并邊調(diào)邊觀察“背景光能分布”窗口。

　　先調(diào)整“上旋鈕”，逆時針方向旋轉(zhuǎn)，如果發(fā)現(xiàn)光柱向左運動說明激光正向著0環(huán)位置偏移。調(diào)整到一定位置時，由于激光已經(jīng)處于zui接近0號探測單元，如果繼續(xù)調(diào)整，激光反而遠(yuǎn)離0號探測單元，光柱反而會向右運動或者光柱消失，調(diào)過頭了。此時應(yīng)該略微回調(diào)，讓光柱恢復(fù)到之前zui接近0環(huán)的位置。